SJ 20677-1998 微波集成PIN单刀开关模块通用规范
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0150CB14449E438EA16791F8DC3FD441 |
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16 |
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日期: |
2024-7-27 |
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SJ,中华人民共和国电子行业军用标准,FL5963 SJ 20677—1998,微波集成PIN单刀开关模块,通用规范,General specification for,microwave integrated PIN single-pole switch module,1998-0370 发布1998-05-01 实施,中华人民共和国电子工业部 批准,目次,1范围.(1),2引用文件.. (1),3 要求 (2),4质量保证规定. (6),5交货准备. (13),6说明事项. :.. (13),附录A缺陷分类(补充件).. (14),中华人民共和国电子行业军用标准,微波集成PIN单刀开关模块通用规范 SJ 20677-1998,General specification for,microwave integrated PIN single-pole switch module,1范围,1.1 主题内容,本规范规定了小功率微波集成PIN单刀开关模块的分类、要求、质量保证规定及,交货准备等,1.2 适用范围,本规范适用于小功率微波集成PIN单刀开关模块(以下简称开关),是研制、生产、,验收的基本依据,1.3 分类,本规范包括的开关按开关支路的数量分为以下四类:,b.,d.,单刀单掷开关,单刀双掷开关,单刀3掷开关,单刀4掷开关,(SPST);,(SPDT);,(SP3T);,(SP4T)o,2引用文件,GB 191—90包装储运图示标志,GJB 150.1—86,GJB 150,3—86,GJB 150.4—86,GJB 150.5—86,GJB 150.9—86,GJB 150.10—86,GJB 150.11—86,GJB 150.16—86,军用设备环境试验方法,军用设备环境试验方法,军用设备环境试验方法,军用设备环境试验方法,军用设备环境试验方法,军用设备环境试验方法,军用设备环境试验方法,军用设备环境试验方法,总则,高温试验,低温试验,温度冲击试验,湿热试验,霉菌试验,盐雾试验,振动试验,中华人民共和国电子工业部1998-03-18发布1998-05-01 实施,-1 ~,SJ 20677—1998,GJB 150.18-86军用设备环境试验方法冲击试验,GJB 179A-90计数抽样检查程序及表,GJB 899—90可靠性鉴定和验收试验,GJBz20464-97电子对抗设备标志、包装、运输、贮存通用要求,SJ 20610—96微波电路微波开关测试方法,3要求,3.1 合格鉴定,按本规范提交的产品应是经鉴定合格或定型批准的产品,3.2 模块主要指标(见4.6.1.4.6.6),模块主要指标见表1,表1模块主要指标,、、き要指标,类别、、,工作频率,GHz,插入损耗,max,dB,隔离度,min,dB,电压驻波比,max,开关时间,max,ns,承受连续波功率,max,W,单刀单掷,(SPST),1-18,2.2 60,2.0,20,0.5,单刀双掷,(SPDT),2.6,55 25,单刀3掷,(SP3T),2.9,单刀4掷,(SP4T),3.1,3.3模块的外形尺寸和安装,单刀单掷开关模块的外形尺寸和安装尺寸见图1,单刀双掷开关模块的外形尺寸,和安装尺寸见图2,单刀3掷开关模块的外形尺寸和安装尺寸见图3,单刀4掷开关模,块的外形尺寸和安装尺寸见图4,3.4 可靠性要求,开关的平均故障间隔时间MTBF不小于50 000 h,3.5 维修性要求,本规范中包括的开关均为现场可更换单元,其现场更换时间不超过15min=,3.6 环境要求,3. 6.1工作状态要求,-2 -,SJ 20677—1998,3. 6.1.1 咼温,开关在「.作温度为85 ℃时,应能正常I:作,3. 6.1.2 低温,开关在「.作温度为ー55。¢时,应能正常I:作,2ー见.38长2.5 安装板(可拆平2.4,I---- ------ 2-SMA/K \ H I,4- ¢0.7 长 4,3.2,图1单刀单掷开关模块外形尺寸和安装尺寸,图2单刀双掷开关模块外形尺寸和安装尺寸,- 3 -,SJ 20677—1998,图3单刀3掷开关模块外形尺寸和安装尺寸,2.4,8-01.6 彳,4—4.6,匈SP4I,厶ク,ク,④-,rJl,0,h=J,(j 2—22.4,口 24:6,安装板(可拆卸),5-00.38 氏 2.5 ..ゝ,5-SMA/K D,6- ¢0.7 长 4,图4单刀4掷开关模块外形尺寸利安装尺寸,3.6. 1.3 振动,当开关按4.6.10.3的规定试验结束后,零件应不断裂、松动、脱落,且开关能正,常「.作,3.6.2『「.作状态耍求,4,SJ 20677—1998,3. 6. 2.1贮存温度,开关的贮存温度范围为ー55。¢, 70 ℃〇,当开关按4610.4的规定试验后,应能正常工作,3. 6. 2. 2 湿热,当开关按4610.5的规定试验后,不应有明显的退化或机械损伤,3. 6. 2. 3温度冲击,当开关按4.6.10.6的规定试验后,应能正常工作,3. 6. 2.4 冲击,当开关按4.6.10.7的规定试验后,,应能正常工作。当试验结束时,零件应不断裂、,松动、脱落,3. 6. 2. 5 盐雾,当开关按4.6.10.8的规定试验后,应无明显的会妨碍电气和机械性能的过度腐蚀,现象,且能正常工作,3. 6. 2. 6 霉菌,开关应具有抗霉能力,当形状按4.6.10.9的规定试验后,长霉等级1级的为合格,3.7 接口和互换性要求,3.7.1 开关的射频接口均应采用SMA-K=,3.7.2……
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